专利状态
一种基于FPGA的像素边缘位置检测方法、系统及存储介质
专利申请进度
申请
2023-07-24
申请公布
2023-08-29
授权
2023-10-31
预估到期
2043-07-24
专利基础信息
申请号 申请日
授权公布号 授权公告日
分类号
分类
申请人名称 合肥埃科光电科技股份有限公司
申请人地址
专利法律状态
  • 2023-10-31
    授权
    状态信息
    授权
  • 2023-09-15
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G06T7/13;申请日:20230724
  • 2023-08-29
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明公开了一种基于FPGA的像素边缘位置检测方法、系统及存储介质,属于图像数据处理技术领域。本发明针对工业相机扫描得到的行数据进行处理,能够实时针对每一行图像数据进行边缘位置提取,通过设定亮区阈值、暗区阈值、连续亮区像素计数L、连续暗区像素计数M、亮暗过渡区域计数N,来进行边缘检测。若像素同一侧的N个像素的像素值,均位于设定的亮区阈值和暗区阈值之间,且该N个像素一侧的L个像素的像素值高于亮区阈值,另一侧的M个像素的像素值低于暗区阈值,则满足边缘检测条件。本发明能够有效地处理高速传输的大量数据,针对边缘点精度需求很高的场合,还可以利用边缘点附近多个像素梯度值计算出边界所处亚像素位置。

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