专利状态
一种中继跟踪器的跟踪扫描系统、标定方法及测量方法
专利申请进度
申请
2020-12-07
申请公布
2021-04-23
授权
2022-10-18
预估到期
2040-12-07
专利基础信息
申请号 申请日
授权公布号 授权公告日
分类号
分类
申请人名称 武汉中观自动化科技有限公司
申请人地址
专利法律状态
  • 2022-10-18
    授权
    状态信息
    授权
  • 2021-04-23
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明涉及一种中继跟踪器的跟踪扫描系统、标定方法及测量方法,该方法包括:根据外部扫描结果,确定中继跟踪器的标靶点坐标系;根据标定板、主跟踪器和中继跟踪器的相对位置关系,确定中继跟踪器的跟踪系统坐标系;通过标定板、主跟踪器和中继跟踪器的坐标变换关系,确定标靶点坐标系转换到主跟踪器的三维跟踪坐标系的第一转换式、三维跟踪坐标系转换到标定坐标系的第二转换式以及标定坐标系转换到跟踪系统坐标的第三转换式;根据三个转换式,确定标靶点坐标系转换到跟踪系统坐标的第四转换式。本发明的中继跟踪器,既可以被跟踪,也可以跟踪下一级中继式跟踪器,延长跟踪器跟踪距离和扫描区域,以此保证扫描定位的准确性。

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