本发明公开了一种实现电压拉偏的Flash自动化筛选系统及筛选方法，包括发出老化命令和电压值参数的上位机，及与所述上位连接的控制芯片，以及与所述控制芯片连接的SSD主控，所述SSD主控上连接有用于控制电压拉偏的电压拉偏模块。本发明的有益效果是：本方案采用“上位机——MCU控制板——SSD主控——Flash颗粒”的架构，对Flash颗粒进行批量老化测试。通过上位机软件设置Flash颗粒拉偏电压参数，通过CAN及串口通信将带参数的命令发送给SSD控制芯片，再由SSD主控在对Flash颗粒做擦写读的同时，通过电压拉偏模块改变Flash颗粒供电电压，实现带电压拉偏测试的Flash颗粒自动筛选，电压拉偏功能可与Flash颗粒老化测试同步进行，无需单独控制。