专利状态
一种NAND性能测试方法及其系统
专利申请进度
申请
2019-02-12
申请公布
2019-05-28
授权
2020-12-29
预估到期
2039-02-12
专利基础信息
申请号 申请日
授权公布号 授权公告日
分类号
分类
申请人名称 记忆科技(深圳)有限公司
申请人地址
专利法律状态
  • 2024-02-27
    专利权的终止
    状态信息
    未缴年费专利权终止;IPC(主分类):G11C29/56;申请日:20190212;授权公告日:20201229
  • 2020-12-29
    授权
    状态信息
    授权
  • 2019-06-21
    实质审查的生效
    状态信息
    实质审查的生效;IPC(主分类):G11C29/56;申请日:20190212
  • 2019-05-28
    公布
    状态信息
    公布
摘要
本发明涉及一种NAND性能测试方法及其系统;其中,NAND性能测试方法,包括以下步骤:S1,上位机通过算法构造出满足各个模式组合的命令包;S2,将命令包发送给NFC,NFC通过描述符的设置特性指令自动完成各个模式组合的NAND Flash的配置;S3,在相同环境下,NFC通过描述符对不同配置的NAND Flash进行读写操作,并进行读写性能测试;S4,将各个配置下的性能数据反馈至上位机;S5,将性能数据自动导入excel中,并生成数据对比文件和图示。本发明通过上位机自动完成对NAND Flash各个模式组合的配置,同时也可以对各个配置下的NAND Flash性能数据进行计算,比较和展示;提高了NAND性能测试的效率,节约了人力成本,能够更好地满足需求。  

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