杭州迪普科技股份有限公司_一种FPGA状态的检测方法及装置专利信息-牌子123

专利状态

一种FPGA状态的检测方法及装置

专利申请进度

申请

2019-06-14

申请公布

2019-10-01

授权

2024-01-23

预估到期

2039-06-14

专利基础信息

申请号		申请日
授权公布号		授权公告日
分类号
分类
申请人名称	杭州迪普科技股份有限公司
申请人地址

专利法律状态

2024-01-23

授权

状态信息

授权
2019-11-01

实质审查的生效

状态信息

实质审查的生效；IPC(主分类):G06F11/22；申请日:20190614
2019-10-01

公布

状态信息

公布

摘要

本申请提供一种FPGA状态的检测方法及装置。一种FPGA状态的检测方法，包括：当通过FPGA任一接收端口接收到报文时，为所述报文分配存储地址；统计所述存储地址的被占用时长；判断所述存储地址的被占用时长是否超过预设阈值；若所述存储地址的被占用时长超过预设阈值，检测所述存储地址是否被释放；若所述存储地址未被释放，确定所述FPGA状态异常。