本实用新型涉及一种复合阵列式扫查器，包括外壳和多个探头，各个探头均可拆卸安装在外壳的下表面，其特征在于：所述多个探头包括自前至后依次设置的第一探头、第二探头、第三探头、第四探头、第五探头、第六探头和第七探头；其中，第四探头为单晶片K0探头、其他探头均为双晶片K1探头；第一探头、第二探头的两个晶片均包括处于前侧的可发可收晶片和处于后侧的单发射晶片，第四探头的晶片为可发可收晶片，其他探头的两个晶片均为单接收晶片。这种复合阵列式扫查器能够对钢轨焊缝及热影响区轨墙部分的各种缺陷进行扫查，扫查类型多、精度高，具有更好的综合扫查检测能力。