专利状态
电子天平密度测量套件装置
专利申请进度
申请
2017-10-18
授权
2018-09-18
预估到期
2027-10-18
专利基础信息
申请号 申请日
授权公布号 授权公告日
分类号
分类
申请人名称 赛多利斯科学仪器(北京)有限公司
申请人地址
专利法律状态
  • 2018-09-18
    授权
    状态信息
    授权
摘要
本实用新型涉及密度测量装置领域,公开了一种电子天平密度测量套件装置,包括支撑架,该支撑架为具有对称中心线的轴对称结构且底端能够连接于电子天平的秤盘座上,并连接为使得该支撑架的重心以及所述电子天平的称量中心均位于该支撑架的所述对称中心线上;样品放置机构和/或浮力机构,该样品放置机构和/或浮力机构能够设置于所述支撑架上,并沿所述支撑架的所述对称中心线朝向该支撑架的底端延伸;以及,烧杯支架,该烧杯支架能够支撑于所述电子天平的面板上,且该烧杯支架与所述支撑架之间具有间隙。本实用新型的被测物的重心能够控制在以电子天平的称量中心为圆点的较小的半径区域内,以使得电子天平的测量结果更加精准。

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